本文標(biāo)題:顯微鏡顯微觀察時(shí)的反射率的測定過程
信息分類:站內(nèi)新聞 新聞來源：未知 發(fā)布時(shí)間：2015-4-24 15:46:42
顯微鏡顯微觀察時(shí)的反射率的測定過程
用光電法測定反射率時(shí)，被測面積必須磨光得象理想鏡
面不能有麻點(diǎn)。
測定時(shí)光片應(yīng)該是新磨的儲(chǔ)存時(shí)間光片在測定重新拋光
，至少也須清洗測畢立即放盒防止落上灰塵。
為便于比較礦相學(xué)對(duì)每種礦物至少測實(shí)驗(yàn)室對(duì)微米四種
波長的反射率因此應(yīng)盡可能用這四種單色光測定。
在使用值大于干燥物鏡或大于油浸物鏡測定時(shí)，垂直照
明器上的孔徑光圈應(yīng)適當(dāng)縮小，以使投射到光片上的光
為嚴(yán)格垂直入射光。
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