本文標(biāo)題:使用顯微鏡檢測晶體物質(zhì)的形態(tài)是什么

使用顯微鏡檢測晶體物質(zhì)的形態(tài)是什么

通常我們在使用偏光顯微鏡進(jìn)行顯微檢測研究分析時，
則主要是根據(jù)兩個晶體物質(zhì)之間傾斜接觸進(jìn)行的。

在進(jìn)行接觸晶體之產(chǎn)間折射率的檢測，晶體則是一種每
礦物的固定或是特定的形態(tài)進(jìn)行的，而對于這種情況則
主要取決于晶體結(jié)構(gòu)與生長的條件進(jìn)行的。

因此對于晶體的檢測還需要與生長結(jié)構(gòu)的一個礦物質(zhì)的
鑒別特征是分不開的。

因而我們通常情況下所對晶體進(jìn)行檢測的是比較常見的
晶體形式形態(tài)，如軸狀晶體形態(tài)、板狀體形態(tài)、針狀體
形態(tài)、纖維狀體形態(tài)與集合體呈放射狀的體形態(tài)。

將本頁加入收藏

下一篇：偏光顯微觀察與礦物質(zhì)的檢測 　　　　　 上一篇：如何用顯微鏡對礦物質(zhì)進(jìn)行檢測

本文出自上海永亨光學(xué)儀器有限公司，本文地址：http://www.netlenka.cn/xinwen/1864.html 　
工業(yè)顯微鏡測量顯微鏡視頻顯微鏡專業(yè)的供應(yīng)商
合作伙伴：http://www.xianweijing.org/顯微鏡百科