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本文標(biāo)題:掌握掃描電子顯微鏡進(jìn)行檢測(cè)中需要注意的幾點(diǎn)要求（之二）
信息分類:站內(nèi)新聞 新聞來源：未知 發(fā)布時(shí)間：2015-10-31 10:15:55
掌握掃描電子顯微鏡進(jìn)行檢測(cè)中需要注意的幾點(diǎn)要求（之二）
④觀測(cè)試樣的范圍，對(duì)于微區(qū)的電場(chǎng)，及磁場(chǎng)的分布都
是可以的，還有熒光情況下的陰極，如果是半導(dǎo)體的，那
么就可以觀測(cè)到氧化膜保護(hù)下的試樣，
保護(hù)膜下的半導(dǎo)體也是可以觀測(cè)到的，還有其升溫和減
溫的過程，以及其試樣是否進(jìn)行過拉伸等動(dòng)態(tài)的情況，
⑤如果需要對(duì)微區(qū)進(jìn)行分析的話，那么是可以結(jié)合電子
探針顯微鏡進(jìn)行詳細(xì)的分析，
⑥配置上電子通道的話，還可以對(duì)其附件和電子衍射的
附件一同對(duì)結(jié)構(gòu)進(jìn)行分析，
⑦ 其使用的電子束流不大，這樣不會(huì)對(duì)試樣造成損傷，
還能夠?qū)ι镌嚇雍突瘜W(xué)纖維試樣進(jìn)行直接的觀測(cè)。
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本文出自上海永亨光學(xué)儀器有限公司，本文地址：http://www.netlenka.cn/xinwen/1917.html
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